圧力送信機のデュアルダイアフラム構造設計
ダイアフラム材料に関する基本的な研究圧力送信機成功を達成するために、さまざまな分野や製造プロセスの専門家による長期的な蓄積と継続的な改善が必要です。トランスミッターの市場需要の増大に直面して、二重副腎構造を介した測定精度に対する突然の温度ショックの影響に効果的に対処できます。急速な温度変化によって引き起こされる変形は、特定の範囲内で発生します。構造補償を通じてこの変形範囲を削減または排除することにより、プロセステスト中に測定精度を効果的に確保し、送信機の信頼性を保証できます。図6に示すように、デュアルダイアフラム構造には、圧力感知ダイアフラムに加えて吸収ダイアフラムが組み込まれています。圧力感知ダイアフラムが温度ショックにより変形すると、吸収ダイアフラムは圧力下で同じ方向に変形を起こし、圧力ショックによって生成される力によって生成される力を効果的にキャンセルします。吸収ダイアフラムの動きには位置制限要件があります。つまり、突然の温度変化によって引き起こされる最大変形範囲を計算し、充填液の体積密度に基づいてテストする必要があります。設計中、圧力感知ダイアフラムのオイルキャビティ体積（油量）は、吸収ダイアフラムの制限空洞の油容積を超えなければなりません。それ以外の場合、圧力透過障害が発生する可能性があります。デュアルダイアフラム構造は、CIP洗浄中の突然の温度変化を含む状況に効果的に対処し、洗浄プロセス全体で正確で安定した圧力測定値を確保することができます。もちろん、この構造設計には制限があります。なぜなら、いくつかの圧力のヒステリシスを引き起こす可能性があり、そのアプリケーションの運用条件を包括的に考慮する必要があるからです。
図6
4つの結論と見通し
衛生圧力送信機は、食品、医薬品、飲料、および乳業の生産プロセス監視アプリケーションで広く使用されています。 CIPクリーニングは、処理の安全性と衛生を確保するための最も重要な生産プロセスを表しています。 CIPクリーニングの信頼できる監視要件を満たすために、このホワイトペーパーでは、3つの側面からの送信機の温度ショックを簡単に説明、分析、調査しました：二重温度補償構造設計、ダイアフラムプロセスと材料設計のセンシング、およびデュアルダイアフラム構造の設計、継続的な開発と強化に貢献しながら、トランスミッターの温度ショック問題を解決するための貴重な研究方向を提供します。
近年、グローバル圧力送信機テクノロジーは革新を続けており、測定精度、環境適応性、長期的な安定性において大きなブレークスルーを達成しています。重要な業界参加者として、中国のメーカーは、基本的な材料、コアプロセス、チップテクノロジーの研究開発に積極的に投資しています。国内産業政策からの支援により、国内企業は、センサーの設計や信号処理などの主要な技術分野で継続的に進歩し、製品の競争力は着実に改善されています。 Leeg Instrumentsは、技術革新を通じて優れた測定ソリューションを顧客に提供することに引き続き取り組んでいます。国際的なパートナーとの協力を深め、業界の技術的進歩とグローバルなアプリケーション開発を共同で促進することを楽しみにしています。
